试论影响基因芯片实验设计的因素

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2005-05-15 (publication date) through 2024-12-27

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出版物名称

世界华人消化杂志

ISSN

1009-3079

本文章的出版商

Baishideng Publishing Group Inc, 7041 Koll Center Parkway, Suite 160, Pleasanton, CA 94566, USA

文献综述

世界华人消化杂志. 2005-05-15; 13(10): 1206-1209
在线出版 2005-05-15. doi: 10.11569/wcjd.v13.i10.1206

图4 环形设计.

引文著录: 吴斌, 林乔, 王米渠, 王建国. 试论影响基因芯片实验设计的因素. 世界华人消化杂志 2005; 13(10): 1206-1209